所謂加速壽命試驗，就是在不改變原來試驗?zāi)康牡那疤嵯?，通過各種辦法來減少試驗時間或樣品數(shù)量，例如在試驗過 程中，增加斷續(xù)工作的次數(shù)，使得在較短的時間內(nèi)獲得等效于 正常壽命試驗的效果（所謂時間加速壽命試驗）；或加大試驗 應(yīng)力強度，從而加速產(chǎn)品的物理性能劣化過程（所謂強制劣化 壽命試驗）；或加嚴失效判據(jù)以縮短試驗時間（所謂判定加速 壽命試驗〉；或把上述各種方法組合應(yīng)用而達到縮短時間，減 少試驗樣品數(shù)量的目的，上述各種壽命試驗方法，通稱為加速壽命試驗。

加速壽命試驗的加速系數(shù)可從幾十至幾百，甚至上千，因 而對解決時一數(shù)矛盾起到了很大的作用?，F(xiàn)在，可靠性物理學(xué) 的迅速發(fā)展已使得人們能進一步了解和掌握產(chǎn)品失效機理與應(yīng) 力的內(nèi)在聯(lián)系，因而能更有針對性地、更有效地選擇應(yīng)力種類 與應(yīng)力水平，使得加速試驗的加速作用更為顯著，并獲得更廣 泛的應(yīng)用。

    加速壽命試驗機適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間.